Weryfikacja specyfikacji motoryzacyjnej AEC-Q

Krótki opis:

Jako akceptowana na świecie specyfikacja testowa komponentów elektronicznych stosowanych w motoryzacji, AEC-Q stała się symbolem jakości i niezawodności komponentów motoryzacyjnych.Badania certyfikacyjne AEC-Q komponentów elektronicznych odgrywają ważną rolę w poprawie konkurencyjności produktu i szybkim wejściu do łańcucha dostaw.

Wyślij e-mail do nas

Szczegóły produktu

Tagi produktów

Zakres usługi

Jako jedyna agencja niezależnej metrologii i testów w Chinach, która ma możliwość wydawania kompletnych raportów kwalifikacyjnych AEC-Q100, AEC-Q101, AECQ102, AECQ103, AEC-Q104, AEC-Q200, GRGT wydała serię miarodajnych i wiarygodne raporty z testów niezawodności AEC-Q.Jednocześnie GRGT posiada zespół ekspertów z ponad dziesięcioletnim doświadczeniem w branży półprzewodników, którzy mogą analizować wadliwe produkty w procesie weryfikacji AEC-Q i pomagać firmom w ulepszaniu i modernizacji produktów zgodnie z mechanizmem awarii.

Obwody scalone, półprzewodniki dyskretne, półprzewodniki optoelektroniczne, urządzenia MEMS, MCM, pasywne komponenty elektroniczne, w tym rezystory, kondensatory, cewki indukcyjne i oscylatory kwarcowe

Standardy testowe

AEC-Q100 głównie dla układów scalonych

AEC-Q101 dla BJT, FET, IGBT, PIN itp.

AEC-Q102 dla LED, LD, PLD, APD itp.

AEC-Q103 do mikrofonu MEMS, czujnika itp.

AEC-Q104 dla modeli wielochipowych itp.

Rezystory, kondensatory, cewki indukcyjne i oscylatory kwarcowe AEC-Q200 itp.

Elementy testowe

Typ testu	Elementy testowe
Testy parametrów	Weryfikacja funkcjonalna, parametry elektryczne, parametry optyczne, opór cieplny, wymiary fizyczne, tolerancja lawinowa, charakterystyka zwarciowa itp.
Testy warunków skrajnych dla środowiska	Żywotność w wysokiej temperaturze, odwrotne odchylenie w wysokiej temperaturze, odchylenie bramki w wysokiej temperaturze, cykliczne zmiany temperatury, trwałość przy przechowywaniu w wysokiej temperaturze, trwałość przy przechowywaniu w niskiej temperaturze, autoklaw, bardzo przyspieszony test obciążeniowy, odwrotne odchylenie w wysokiej temperaturze i wysokiej wilgotności, wysoka wilgotność na mokro żywotność temperaturowa, żywotność w niskich temperaturach, żywotność impulsów, przerywana żywotność, cykliczne zmiany temperatury zasilania, stałe przyspieszenie, wibracje, wstrząsy mechaniczne, upuszczenia, drobne i duże wycieki, mgła solna, rosa, siarkowodór, przepływający mieszany gaz itp.
Ocena jakości procesu	Niszcząca analiza fizyczna, wytrzymałość zacisków, odporność na rozpuszczalniki, odporność na ciepło lutowania, lutowność, ścinanie wiązania drutu, rozciąganie wiązania drutu, ścinanie matrycy, test bezołowiowy, palność, ognioodporność, wyginanie płyty, obciążenie belki itp.
ESD	Model ciała ludzkiego z wyładowaniami elektrostatycznymi, model urządzenia naładowanego wyładowaniami elektrostatycznymi, zatrzask w wysokiej temperaturze, zatrzask w temperaturze pokojowej