• baner_głowy_01

Certyfikacja urządzenia zasilającego AQG324

Krótki opis:

Grupa robocza ECPE AQG 324, powołana w czerwcu 2017 r., opracowuje europejskie wytyczne kwalifikacyjne dla modułów mocy przeznaczonych do stosowania w jednostkach przekształtnikowych elektroniki mocy w pojazdach silnikowych.


Szczegóły produktu

Tagi produktów

Wprowadzenie do usługi

Grupa robocza ECPE AQG 324, powołana w czerwcu 2017 r., opracowuje europejskie wytyczne kwalifikacyjne dla modułów mocy przeznaczonych do stosowania w jednostkach przekształtnikowych elektroniki mocy w pojazdach silnikowych.

Opierając się na dawnej niemieckiej normie LV 324 („Kwalifikacja modułów elektroniki mocy do stosowania w podzespołach pojazdów silnikowych – Wymagania ogólne, warunki badań i testy”), wytyczne ECPE definiują wspólną procedurę charakteryzowania testów modułów, a także testów środowiskowych i okresu eksploatacji modułów elektroniki mocy przeznaczonych do zastosowań w motoryzacji.

Wytyczne zostały opublikowane przez odpowiedzialną Grupę Roboczą Przemysłu, w skład której wchodzą firmy członkowskie ECPE i ponad 30 przedstawicieli branży z łańcucha dostaw dla przemysłu motoryzacyjnego.

Obecna wersja AQG 324 z 12 kwietnia 2018 r. skupia się na modułach mocy na bazie krzemu, a przyszłe wersje, które zostaną wydane przez grupę roboczą, będą również obejmować nowe półprzewodniki mocy o szerokiej przerwie energetycznej SiC i GaN.

Dzięki dogłębnej interpretacji normy AQG324 i powiązanych norm przez zespół ekspertów, firma GRGT udowodniła, że ​​posiada techniczne możliwości weryfikacji modułów mocy, dostarczając wiarygodne raporty z inspekcji i weryfikacji normy AQG324 dla przedsiębiorstw zajmujących się produkcją półprzewodników mocy na różnych etapach łańcucha dostaw.

Zakres usług

Moduły urządzeń zasilających i odpowiednie produkty o specjalnej konstrukcji oparte na urządzeniach dyskretnych

Normy testowe

● DINENISO/IEC17025: Ogólne wymagania dotyczące kompetencji laboratoriów badawczych i kalibracyjnych

● IEC 60747: Przyrządy półprzewodnikowe, Przyrządy dyskretne

● IEC 60749: Przyrządy półprzewodnikowe ‒ Metody badań mechanicznych i klimatycznych

● DIN EN 60664: Koordynacja izolacji urządzeń w systemach niskiego napięcia

● DINEN60069: Badania środowiskowe

● JESD22-A119:2009: Okres przechowywania w niskiej temperaturze

Elementy testowe

Typ testu

Elementy testowe

Wykrywanie modułu

Parametry statyczne, parametry dynamiczne, wykrywanie warstwy połączenia (SAM), IPI/VI, OMA

Test charakterystyki modułu

Indukcyjność pasożytnicza, rezystancja cieplna, wytrzymałość zwarciowa, test izolacji, wykrywanie parametrów mechanicznych

Test środowiskowy

Wstrząs termiczny, wibracje mechaniczne, wstrząs mechaniczny

Test życia

Cykl zasilania (PCsec, PCmin), HTRB, HV-H3TRB, dynamiczne polaryzowanie bramki, dynamiczne polaryzowanie odwrotne, dynamiczny H3TRB, degradacja bipolarna diody korpusu


  • Poprzedni:
  • Następny:

  • Napisz tutaj swoją wiadomość i wyślij ją do nas